浅谈涂层测厚仪工作原理与常见故障

摘 要结合工作实际情况依据G88005《磁性涡流覆层测量仪》检定规程对涂层测厚仪工作原理和常见故障及排除故障方法进行分析论述。

关键词涂层测厚仪;工作原理;常见故障 测厚仪简介测厚仪(k gg)是用测量物体厚仪表。

工业生产常用连续测量产品厚(如钢板、钢带、纸张等)。

这类仪表有利用α射线、β射线、射线穿透特性放射性厚计;有利用超声波频率变化超声波厚计;有利用涡流原理电涡流厚计;还有电容式厚计等。

而利用微波和激光技术制成厚计目前还处研制、试验阶段。

涂层测厚仪(下统简称“测厚仪”)可测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层厚(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层厚(如珐琅、橡胶、油漆、塑等)。

既可用实验室精密测量也可用工程现场广泛地应用金属制造业、化工业、航空航天、科研开发等领域是企业保证产品质量、商检测控、必不可少检测仪器

工作原理测厚仪般采用电磁感应法测量涂层厚。

将处工作状态下测量探头放置被测部件表面因产生闭合磁回路随着移动探头与铁磁性材距离发生改变该磁回路将产生不程改变从而引起磁阻及探头线圈电感变化。

利用这原理可以精确地测量探头与铁磁性材距离该距离即所测涂层厚。

根据以上测量原理制成测厚仪般会分以下五种类型()磁性测厚法适用导磁材上非导磁层厚测量

导磁材般钢、铁、银、镍。

种方法测量结精高。

磁性(磁阻式和磁力式)覆层测量仪和电涡流覆层测量仪。

()涡流测厚法适用导电金属上非导电层厚测量种方法较磁性测厚法精低。

(3)超声波测厚法该类型测厚仪适用多层涂镀层厚测量或者前两种方法都无法测量场合。

但般价格昂贵、测量精也不高目前国外别厂有这样仪器国暂没有投入生产。

()电测厚法不以上三种方法要破坏涂镀层属有损检测。

测量方法比前三种麻烦并且精也不高。

(5)放射测厚法方法依据放射检测并且仪器价格非常昂贵(般0万人民币以上)适用些特殊环境各项技术参数要相对较高使用围相对狭窄。

目前国使用普遍是磁性法和涡流测厚仪测量方法无损伤既不破坏被测工件覆层也不破坏基材仪器身体积巧测量围宽、使用操作简便、适用围广并且购置价格相对低廉检测速快捷。

随着现代科学技术日益进步部分机型测量分辨率可以达到00微米准确等级可达到标称示值%并且通配备不类型测头可满足多种测量要。

3 涂层测厚仪常见故障及排除方法涂层测厚仪故障主要有示值显示不稳定、测量误差较、屏幕不显示数据。

引起这些故障原因既有仪器身也有被测工件原因还有就是人影响下面我们介绍下排除这些故障方法。

3 示值显示不稳定导致涂测厚仪示值显示不稳定原因主要是工件身材和结构特殊性比如工件身是否导磁性材如是导磁性材我们就要选择磁性涂层测厚仪如工件导电体我们就得选择涡流涂层测厚仪

再者被测件表面粗糙和附着物也是引起仪器示值显示不稳定重要因素测厚仪测头对那些妨碍与覆盖层表面紧密接触附着物质极其敏感。

必须保证探头覆盖层表面直接接触。

因排除种故障要就是测量前清除被测件接触面灰尘、细屑、油脂及腐蚀产物等附着物但不要除任何覆盖层物质。

再有就是进行系统调零所使用基体表面也必须是清洁、光滑。

如感觉测量结偏差比较请先用仪器配备塑校准片做轮测试如偏离允许误差较远则有可能是仪器身出了问题返厂检修。

系统校准没有选择合适基体

基体平面7厚0低临界条件测量是不可靠。

3 测量结误差探头放置方式对测量有很影响测量应使探头与被测件表面保持垂直。

并且探头放置不宜长以免造成基体身磁场干扰。

测量不要拖动探头因这样不仅对探头会造成磨损也不会得到准确测量结。

另外基体金属被磁化、基体金属厚、工件曲率、测量基座表面有锈蚀、测量现场周围有电磁场干扰等因素都有可能引起测量结异常如离电磁场非常近还有可能会发生死机现象。

33 屏幕不显示数据简单原因就是检电池是否电量充足确定电池电量充足如发现测量还是不显示数值可以考虑是否有测头及连线有松动、断开或接触不良现象、电池漏液腐蚀仪器电子零部件等因素影响。

作者实际工作就碰到因测头使用不当被化学物品腐蚀导致仪器不显示数据现象。

3 人因素涂层测厚仪所以能够测量到微米级就因它能够采取磁通量微变化并把它化成数信。

使用者测量程如对仪器不熟悉就可能使探头偏离被测体使磁通量发生变化造成错误测量

使用者初次使用仪器要先认真研说明掌握测量方法。

35 仪器身发生故障长期处工作状态测厚仪极有可能发生震动、跌落、等外或所处工作环境有磁场干扰致使仪器部电子零件受干扰至损又是由多人次、多地使用导致仪器测量数据不可靠、屏幕数据显示呈乱码、甚至无法开机等所以建议尽量保证专人使用和保管仪器发生故障及返厂维修不得擅拆机检测。

因使用测厚仪测量候要以下八()进行测试候要标准片基体金属磁性和表面粗糙应当与试件相似。

()测量候要侧头与试样表面保持垂直。

(3)进行测试候要基体金属临界厚如这厚测量就不受基体金属厚影响。

()测量候要试件曲率对测量影响。

因弯曲试件表面上测量不可靠。

(5)测量前要周围其他电器设备会不会产生磁场如会将会干扰磁性测厚法测厚仪

(6)测量要不要角处和靠近试件边缘处测量因般测厚仪对试件表面形状忽然变化很敏感。

(7)测量要保持压力恒定否则会影响测量数。

(8)进行测试候要仪器测头和被测试件要直接接触因超声波测厚仪进行对侧头清除附着物质。

参考献[]G88005磁性涡流覆层测量仪检定规程[Z][]GB956003磁性基体上非磁性覆盖层 覆盖层测量 磁性法[Z][3]GB957003非磁性基体金属上非导电覆盖层 覆盖层测量 涡流法[Z][]B8393996磁性涡流覆层测量仪[Z]

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